| Diffrazione di raggi X mediante sorgenti convenzionali
o luce di sincrotrone per la determinazione della struttura cristallografica |
Principi
fisici della diffrazione di raggi X
Diffrazione
mediante luce di sincrotrone
Esempio di misure realizzate
a Napoli
|
| Misure di microscopia elettronica a trasmissione e di
microscopia a forza atomica per determinazione della microstruttura e della
morfologia superficiale |
|
| Misure di trasporto di film e dispositivi superconduttori
in condizioni criogeniche ed in funzione del campo magnetico applicato |
|
| Misure di conduttività ottica per la determinazione
dello spettro delle eccitazioni elettroniche |
|
